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    產品名稱:

    熒光光譜測試儀

    產品品牌: 湖北高天 價格:
    廠商性質: 生產廠家 更新時間: 2024-03-09
    熒光光譜測試儀又稱分光儀,廣泛為認知的為直讀光譜儀。以光電倍增管等光探測器測量譜線不同波長位置強度的裝置。它由一個入射狹縫,一個色散系統,一個成像系統和一個或多個出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長或波長區域,并在選定的波長上(或掃描某一波段)進行強度測定。分為單色儀和多色儀兩種。

    產品概述

    熒光光譜測試儀又稱分光儀,廣泛為認知的為直讀光譜儀。以光電倍增管等光探測器測量譜線不同波長位置強度的裝置。它由一個入射狹縫,一個色散系統,一個成像系統和一個或多個出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長或波長區域,并在選定的波長上(或掃描某一波段)進行強度測定。分為單色儀和多色儀兩種。

    標準配置:

    1. 原裝電致冷Si-PINtanceqi

    2. X射線光管模塊

    3. 高低壓電源模塊

    4. 多道分析模塊

    5. 信噪比增強模塊

    6. 集成IPAD觸摸屏

    7. RoHS鹵素軟件系統

    構成

    一臺典型的光譜儀主要由一個光學平臺和一個檢測系統組成。包括以下幾個主要部分:

    1. 入射狹縫: 在入射光的照射下形成光譜儀成像系統的物點。

    2. 準直元件: 使狹縫發出的光線變為平行光。該準直元件可以是一獨立的透鏡、反射鏡、或直接集成在色散元件上,如凹面光柵光譜儀中的凹面光柵。

    3. 色散元件: 通常采用光柵,使光信號在空間上按波長分散成為多條光束。

    4. 聚焦元件: 聚焦色散后的光束,使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像,其中每一像點對應于一特定波長。

    5. 探測器陣列:放置于焦平面,用于測量各波長像點的光強度。該探測器陣列可以是CCD陣列或其它種類的光探測器陣列。

    熒光光譜測試儀技術參數:

    測試范圍

    RoHS, 鹵素(硫S-鈾U之間的元素)

    可測試樣品的種類

    固體,液體,粉末

    檢出限

    ≤2ppm;精度:±0.05%

    測試時間

    30-300s(可以任意調節)

    攝像定位系統

    800萬真像素高清定位系統

    X射線光管使用壽命

    >20000小時

    探測器

    Amptek公司原裝電致冷Si-PIN探測器;

    分辨率 145ev±5ev

    高壓電源

    0-50kev,0-2mA  50w

    準直濾光系統

    X射線光斑大小直徑:φ1mm,φ3mm,φ5mm; 9種復合濾光系統

    工作環境溫/濕度

    溫度15-30℃   濕度 ≤75%(不結露)

    輸入電源

    AC220V±15%   50Hz

    額定功率

    150W   重量 33kg

    儀器尺寸

    670*400*330mm

    測試樣品腔尺寸

    200*260*80mm

    專業RoHS指令有害元素和鹵素快速,無損檢測;一體機設計,內置工業計算機和IPAD觸摸屏,無需另配電腦和顯示器。
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